上海光學儀器研究所 |
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聯(lián)系人:莊國斌 | 電話:021-55273011,55276011 |
傳真:021-55276011 | 地址:上海市楊浦區(qū)軍工路516號 |
郵編:200093 | 郵箱:zhuang_gb@usst.edu.cn |
網址:http://www.fabricstest.com |
本儀器可廣泛應用于各級計量單位,研究所和大學實驗室,及大廠計量室和車間加工現(xiàn)場,對機床、儀器的精密導軌和精密平板作運動直線性和平直度測量,以及角度儀器和器具的角值精度測定。儀器采用二維測量的結構原理,可方便地對水平、垂直方向進行角值和線值測量,是一種結構緊湊,攜帶輕巧、使用方便、測量穩(wěn)定可靠的計量儀器。儀器采用一維測微器,滿足二維測量。
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